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台式四探针电阻率测试仪
- 型号：
- M-5
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- M-5台式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
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技术参数产品视频实验案例警示/应用提示配件详情
| 产品特征 |
测试仪由M-5型主机和四探针探头以及快速恒压四探针测试台三部分组成
台式设计，带完善厚度、形状修正功能，测试精准
宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程
操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，LED数字表头显示
多款探头可选，适用于各种不同材料的导电性能测试
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| 工作电源 |
208-240V，50/60Hz
功率：20W
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| 探头 |
根据不同材料特性需要，探头可有多款选配：
碳化钨探针探头（固体材料）：φ0.5mm，探针间距1.0mm，测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料（详见图1）
球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：φ0.7mm，探针间距2mm，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底 上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层（详见图2）
探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差（详见图3）   
图1 图2 图3
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| 选配 |
快速恒压四探针测试台，对测试压力进行调节保证恒压测试，提高测试的精确度 
|
| 测量范围、分辨率 |
电阻：10-5～2*105Ω 分辨率：10-6～102 Ω
电阻率：10-5～2*105Ω-cm 分辨率：10-6～102 Ω-cm
方块电阻：5*10-5～9*105Ω/m2 分辨率5*10-6～5*102Ω/m2
|
| 基本误差 |
±1%FSB±2LSB |
| 外形尺寸 |
220mm L × 245mm W × 100mm H |
| 净重 |
2.5kg |
| 质保期 |
一年保质期，终生维护 |
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皖公网安备 34012302000974号